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Base de données CISDOC

ID du document (ISN)58732
Numéro CIS 92-1694
ISSN - Titre de série 1047-322X - Applied Occupational and Environmental Hygiene
Année 1991
Numéro de convention ou de série
Auteur(s) Rosenthal F.S., Abdollahzadeh S.
Titre Evaluation des champs électriques et magnétiques à fréquence mégamétrique (f.Mm) dans des salles de fabrication de matériel microélectronique
Titre original Assessment of extremely low frequency (ELF) electric and magnetic fields in microelectronics fabrication rooms [en anglais]
Informations bibliographiques sept. 1991, vol.6, n°9, p.777-784. Illus. 21 réf.
Résumé Les champs électriques et magnétiques à fréquence mégamétrique (f.Mm) ont été mesurés dans quatre salles de fabrication de matériel microélectronique utilisant différents dispositifs électriques. Les niveaux des champs magnétiques et électriques dans les allées des salles de travail variaient respectivement entre 0,2 et 7,0mG et 0,1 et 5,0V/m. A environ 5cm des surfaces de divers dispositifs des salles de travail, les niveaux des champs magnétiques variaient entre 5 et 400mG; à environ 60cm, ils variaient entre 0,5 et 70mG. Les niveaux moyens d'exposition individuelle pondérés pour une période de 8 heures ont été estimés à partir des mesures effectuées et des renseignements recueillis sur les comportements typiques dans différentes situations de travail.
Descripteurs (primaires) champs électriques; champs magnétiques; mesure de l'intensité du champ; rayonnements non ionisants
Descripteurs (secondaires) lieux de travail; microélectronique; évaluation de l'exposition
Type de document D - Articles de périodiques
Pays / Etat ou ProvinceUSA
Sujet(s) Rayonnements
Domaine(s) thématique(s) Risques physiques
Catégorie(s) de recherche Electricité
Industrie électronique
Champs électromagnétiques
Rayonnements non ionisants