| ID (ISN) del documento | 65452 |
| Número CIS |
95-1856 |
| ISSN - Título de la serie |
0017-9078 - Health Physics |
| Año |
1994 |
| Número de serie |
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| Autor(es) |
Marshall W.J. |
| Título |
Evaluación comparativa de los riesgos asociados a los sistemas láser de diodo cercanos al infrarrojo |
| Título original |
Comparative hazard evaluation of near-infrared diode lasers [en inglés] |
| Información bibliográfica |
mayo 1994, vol.66, n°5, p.532-539. Ilus. 11 ref. |
| Resumen |
Los métodos presentados para la evaluación de riesgos en las normas de protección contra el láser varían cuando se trata de sistemas láser cercanos al infrarrojo y de fuente ampliada. La clasificación de los riesgos se basa en la comparación de las exposiciones potenciales con las exposiciones máximas admisibles contenidas en las ediciones de 1986 y 1993 de la norma federal americana para la utilización segura del láser, Z136.1. Las características de seguridad que debe reunir un sistema dado dependen de la clase de riesgo. La norma Z136.1-1993 permite una evaluación más simple y más precisa de los riesgos asociados a los sistemas láser de diodo cercanos al infrarrojo que la otra norma de 1986. Si bien fue evaluado un sistema específico, las técnicas descritas pueden fácilmente aplicarse a otros sistemas láser cercanos al infrarrojo o a otros sistemas láser destinados a la formación. |
| Descriptores (primarios) |
diodos electroluminiscentes; valoración del riesgo; límites admisibles; láseres |
| Descriptores (secundarios) |
comentario de norma; valoración del método |
| Tipo de documento |
D - Artículos periódicos |
| País / Estado o Provincia | Estados Unidos |
| Tema(s) |
Radiaciones
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| Broad subject area(s) |
Riesgos físicos
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| Navegación por categoria(s) |
Risk evaluation
Lasers
Occupational exposure limits
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